オックスフォード計器X-Strata 920 X線蛍光めっき厚さ測定器
高速で信頼性の高いX線蛍光めっき層の厚さ測定及び材料分析、低コスト、高効率
めっき層厚測定器X-Strata 920の業界応用:
エレクトロニクス業界 |
Ø素子の信頼性を確保し、半田合金成分とめっき層の厚さを測定する Ø品質管理を最適化し、製品のライフサイクルを確保する。次のようになります。 導電性めっき金、パラジウム厚さを分析する、コンピュータのハードディスク上のNiP層の厚さを測定する |
PCB、FPC、 LED、SMD、コネクタ、アンテナ、半導体、抵抗容量、等の元気部品 |
金属めっき業界 |
Ø迅速で簡単な分析、同時に単層或いは多層めっき層の厚さ測定と成分分析を行い、 Ø最大4層メッキ層の分析 |
ボルト、ナット、スプリング系締結部品、金属製入浴剤、自動車部品、機能性メッキ部品 |
その他の業界 |
Ø金属合金成分分析、ナンバー認定、材料鑑定を行う Øジュエリー及び合金の非破壊分析、金純度分析、合金成分分析を行う |
ジュエリー、アクセサリー、アクセサリー、合金など |
X-Strata 920製品紹介---サンプルテーブルオプション
半自動固定サンプルテーブル |
はんじどうふかしりょうだい |
全自動サンプルテーブル |
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ØZ軸自動制御、移動ストローク:43 mm(1.7″)、XY軸手動制御 Ø試料台の高さを固定し、より大きい試料の高さを測定する33 mm Ø機器外形寸法(幅×奥行×高さ):407×770×305 mm(パソコンとディスプレイを含まない) |
ØZ軸自動制御、移動ストローク:43 mm(1.7″)、XY軸手動制御 Øサンプル倉庫の引き出し式設計、4つの位置を上下に調整可能、1マス当たりの高さ25.4 mm Øより大きなサンプル高さ160 mm Øサンプルビン内部寸法(幅×深さ×高さ):279×508×152 mm Ø機器外形寸法(幅×奥行×高さ):407×770×400 mm(パソコンとディスプレイを含まない) Øカスタムサンプル台:顧客の要求に基づいてより高いサンプル台を提供し、高さが160 mmを超えるサンプル測定を満足し、倉庫内引き出し式設計、複数の位置を上下に調整でき、1マス当たりの高さは25.4 mm |
ØZ軸自動制御、移動ストローク:43 mm(1.7″)、XY軸自動制御 Øサンプルの自動とプログラミング制御、多点測定を提供することができる Øマウスがサンプルテーブルの移動を制御し、サンプル測定点を位置合わせする Ø測定モード:ランダムモード、線形モード、勾配モード、スキャンモード、繰り返し測定モード Øサンプルテーブル移動ストローク:178×178 mm Øサンプル台寸法:幅610×奥行き560 mm Øより大きなサンプル高さ33 mm Ø機器外形寸法:幅610×奥行き1037×高さ375 mm(パソコンとディスプレイを含まない) |
X-Strata 920製品紹介----X線管、コリメータ
オックスフォード50 WマイクロフォーカスX線管 |
従来のマイクロフォーカスX線管 |
オックスフォードマイクロフォーカスX線管 |
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Ø垂直下照射型X線光学系
Ø50 W(50 kV、1.0 mA)空冷式マイクロフォーカス型タングステンWターゲットX線管
Ø高い計数率、分析精度の改善
Øより小さな励起X線ビームスポットに到達
複数モデル仕様のコリメータ
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Øシングルコリメータコンポーネント、
Øマルチコリメータ自動制御コンポーネント:最大6種類の仕様のコリメータを同時に組み立てることができる、
Ø円形、長方形のさまざまな仕様寸法を選択可能(赤は一般的)
円形 |
mil |
4 |
6 |
8 |
12 |
13 |
20 |
mm |
0.102 |
0.152 |
0.203 |
0.305 |
0.33 |
0.508 |
|
長方形 |
mil |
1x2 |
2x2 |
0.5x10 |
1x10 |
2x10 |
4x16 |
mm |
0.025x0.05 |
0.05x0.05 |
0.013x0.254 |
0.254x0.254 |
0.051x0.254 |
0.102x0.406 |
X-Strata 920の動作原理
測定されたサンプルに対して1本の1次X線を放射し、サンプルの原子はX線のエネルギーを吸収した後に励起され、2次X線を放出した。各化学元素は特定のエネルギーのX線を放出する。これらの放出された二次X線の特徴的なエネルギーと強度を測定することにより、X線分析器は被測定材料のめっき厚さと成分に対して定性と定量分析を提供することができる。
X-Strata 920の機能
Ø測定元素範囲:チタンTi 22---ウランU 92、
Ø5層(4層メッキ+基材層)メッキ層を測定し、同時に15種類の元素を分析し、X線重畳スペクトル線を自動的に修正する、
Ø測定精度が高く、安定性が良く、測定結果はμinまで;
Ø高速無損失測定、測定時間が短く、10秒以内に測定結果が得られる、
Ø固体、溶液を分析でき、定性、半定量と定量分析、
ØAu karat評価などの貴金属検査を行う、
Ø材料の鑑別と分類検査、材料と合金元素の分析、元素スペクトルの定性分析、
Ø強力なデータ統計、処理機能:平均値、標準偏差、相対標準偏差、より大きな値、最小値、データ変動範囲、データ番号、CP、CPK、制御上限図、制御下限図、データパケット、X-bar/Rグラフ、ヒストグラム、
Ø結果出力:PDF、Excelファイルに直接印刷またはワンクリックでエクスポートする、レポートにはデータ、画像、統計グラフ、顧客情報などが含まれています。
Ø測定位置プレビュー機能、高分解能カラーCCDサンプル観察システム、標準光学増幅倍数は30倍である、
Øレーザーフォーカスとオートフォーカス機能、マウスをクリックして、Z軸自動スキャン、レーザーフォーカス、
ØNIST認証を持つ標準映画、
Øグローバルなサービスと技術サポートを提供します。
X-Strata 920の高度なシステムセキュリティ
Øシンプルなユーザーインタフェース日常的なオペレータに限られた権限のみを設定 Ø管理者はシステムメンテナンスが可能 Øシステム自動生成オペレータの使用履歴 Ø自動ロック機能による不正な操作の防止 ØZ軸保護センサー Ø安全な放射線防止シャッター Øモデルルームドア開閉センサー ØX線ロック ØX線警告ランプ Ø非常停止ボタン Øフロントパネルセキュリティボタンとリアパネルセキュリティロック |
X-Strata 920の構成
ØX-Strata 920テストホスト
ØレノボThinkCentreコンピュータ(旧IBM)---Windows 7中国語版、SmartLink FP解析パッケージ
Ø17インチデルのDellフラットパネルモニタ
ØキヤノンCanonカラーインクジェットプリンタ
Ø標準シートアセンブリ(めっき層の必要性を満たす)
X-Strata 920の3ステップで測定結果を得ることができます
1製品をサンプル台に置く | |
Ø非破壊分析、サンプル調製不要 Ø製品の設置に便利な溝付きサンプル倉庫 Ø超大見本台は大面積製品(例えば:PCB)の測定に便利である Øドア開閉センサーを搭載し、安全性を強化 |
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2ワンクリックでビデオフォーカスを完了する | |
Øワンタッチ自動レーザー集束により、人為的な操作誤差を避ける Ø標準固定焦点距離12.7 mm、オプションズーム Ø高解像度、高増幅倍率のカラーデジタル映像装置、画面が鮮明で、テストポイントが正確に位置決めされている、倍率:30倍(標準)、50倍(オプション) Ø自動台:プログラマブルXYサンプル台とZ軸を利用した単一または複数回の分析操作 Øシンプルで迅速な多点解析 |
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3ワンクリックで測定を完了する | |
Ø数秒以内に結果を表示 Ø結果の保存、印刷、転送 Ø試験結果はPDF(標準)、Excel(オプション)をワンクリックでエクスポートできる Ø事前設定と顧客定義レポートテンプレートの使用 |